Az MTA oladlán rövid ismertető jelent meg a Nature Scientific-ben publikált cikkről, amely amorf szilícium alacsony hőmérsékletű kristályosításáról szól, Ni fémet felhasználva. Az atomi szintű folyamatok megértéséhez már hozzájárult az MTA EK MFA új gömbi hiba korrigált TEM/STEM mikroszkópja.